Plataforma Multiusuário de Micro Tomografia Computadorizada – Micro CT

Histórico

 

A Plataforma Multiusuária do micro-CTScan foi criada com o objetivo de disponibilizar para a comunidade acadêmica da UFF e instituições ou empresas parceiras a realização de análises que permitam a geração de imagens tridimensionais de qualquer material.

 

O micro-CTScan fabricado pela ZEISS modelo Xradia Versa XRM-510 é um equipamento de alta resolução, que se baseia em técnica não destrutiva, permitindo a análise de centenas de seções microtomográficas e visualização tridimensional interna das amostras, a análise em microescala de materiais variados, inclusive em amostras de alta densidade, como minerais e rochas, além de quantificações automatizadas de área e/ou volume.

 

O equipamento micro-CTScan foi adquirido com recursos de um projeto financiado pela BG Brasil no âmbito do programa de investimentos de P&D&I da ANP, denominado “Aplicação de técnicas avanças de Ressonância Magnética Nuclear (RMN) assistidas por ferramentas computacionais na avaliação petrofísicas de rochas carbonáticas”, período de 2013-2016, coordenado pelo professor Rodrigo Bagueira de V. Azeredo do departamento de Química Orgânica.
“O microtomógrafo de raios-X adquirido servirá não apenas a comunidade científica da UFF, mas também as demais instituições de ensino e pesquisa do estado do Rio de Janeiro, obedecendo a um modelo de gestão semelhante aos do Laboratório Multiusuário de RMN (www.uff.br/laremn) e do Laboratório Regional de Difração de Raios-X (www.uff.br/ldrx), ambos da UFF”. Texto extraído do plano de trabalho do projeto de P&D submetido e aprovado pela BG Brasil e UFF.

 

O equipamento foi adquirido no final de 2013, sendo entregue em fevereiro de 2014 e entrou em operação após instalação e treinamento em abril de 2014. Desde então, o equipamento vem sendo operado de forma harmoniosa e colaborativa por professores e pesquisadores da UFF, pertencentes aos seguintes departamentos: Química Orgânica, Geoquímica, Engenharia Civil e do Instituto de Computação. Internamente, na UFF, têm sido realizadas análises sistemáticas de microtomografia de raio X para professores e pesquisadores dos departamento de Odontologia e Engenharia Mecânica.
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